无损检测
Nondestructive testing
MX2-DL 超小型测厚仪
MX2-DL超小型测厚仪具有ZX系列测厚仪的全部功能，并且还有A/B扫描功能，增益和闸门可连续调节，适用场合更广。
采用FPGA 100MHz采样率，能够获得最佳的分辨率和穿透能力
多种显示方式：RF射频波形显示、A扫描正/负检波显示、B扫描显示和厚度值大数字显示
A 扫描正/负检波显示用于测厚、探伤和腐蚀坑检测
B 扫描显示用于显示被测材料的截面形状
自动增益控制功能用于不去除涂/镀层测量基体厚度
可存储64个用户设定值，所有出厂设定值用户都可选择、编辑和另存为其它设定值
高速扫查功能可用于快速找到壁厚的最小值
上/下限声光报警功能
可通过软件与计算机进行数据交换，方便用户打印检测报告
- MX2-DL
- 外形尺寸63.5X165X31.5毫米键盘12键触摸式按键显示模式全波、正/负半波、数字式或分屏组合式显示（波形+数字）工作温度-10～60℃界面波-底波(P-E)方式0.63－1219.2mm穿透涂层测量(E-E)模式2.54¬—152.4mm（因涂层的不同会有所变化）数据通信接口Type-C接口可和PC电脑连接或者给主机供电存储格式表格式（字母、数字编号）或者顺序式（自动编号）存储能力4GB内部SD卡存储屏幕抓取可存为.tif格式的文件自定义参数设置可存储64个参数设置，内置的参数设置用户也可编辑电池3节5号干电池供电或者通过USB接口供电。自动关机功能（5分钟无任何操作后会自动关机）屏幕刷新率25Hz晶振采用8位100MHz单脉冲超低功耗数字转化器的TCXO振荡器测量单位公制 (mm)/英制(in)声速309.88～18542m/s显示分辨率0.01mm校准模式一点/两点校准探头类型1MHz-10MHz双晶探头探头电缆线插座LEMO 00接口认证标准符合NIST & MIL-STD-45662A
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